聯電首推3DIC方案 加速5G裝置傳輸

聯電2日宣布推出RFSOI製程技術的3D IC解決方案,在不耗損射頻效能情況下,晶片尺寸可減少45%。(圖/聯電提供)
聯電2日宣布推出RFSOI製程技術的3D IC解決方案,在不耗損射頻效能情況下,晶片尺寸可減少45%。(圖/聯電提供)

晶圓廠聯電2日宣布,推出業界首項RFSOI製程技術的3D IC解決方案,此55奈米RFSOI製程平台上所使用的矽堆疊技術,在不損耗射頻(RF)效能下,可將晶片尺寸縮小45%以上,使客戶能夠有效率地整合更多射頻元件,以滿足5G更大的頻寬需求。

RFSOI是用於低雜訊放大器、開關和天線調諧器等射頻晶片的晶圓製程。隨著新一代智慧手機對頻段數量需求的不斷增長,聯電的RFSOI 3D IC解決方案,利用晶圓對晶圓的鍵合技術,並解決了晶片堆疊時常見的射頻干擾問題,將裝置中傳輸和接收資料的關鍵組件,透過垂直堆疊晶片來減少面積,以解決在裝置中為整合更多射頻前端模組帶來的挑戰。該製程已獲得多項國際專利,準備投入量產。

聯電技術開發處執行處長Raj Verma表示,很高興以創新射頻前端模組的3D IC技術為客戶打造最先進的解決方案。這項突破性技術解決了5G/6G智慧手機頻段需求增加所帶來的挑戰,更有助於在行動、物聯網和虛擬實境的裝置中,透過同時容納更多頻段來實現更快的資料傳輸。

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